温控开关配件的红外成像法可以检测局部放电、泄漏电流流过绝缘物质时的介电损耗或电阻损耗等引起的温控开关配件局部温度升高，可以用于在线检测。大量运行复合温控开关配件进行了红外热像测温普查，结果发现：凡有明显局部过热点的温控开关配件，其过热点至绝缘子高压端硅橡胶表面均显著发黑、粉化、变脆、憎水性基本丧失。
有的温控开关配件有许多细小裂纹甚至出现严重破损；发热点至高压端的一段不能承受工频耐压试验或陡波冲击试验，可知发热点为内绝缘界面局部放电进展的位置。仪器造价高且测量易受阳光、大风、潮气、环境温度及一些能引起温控开关配件表面温度急剧变化因素的影响是红外成像法的不足之处。
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